合肥康芯威申请“一种存储芯片的检测系统及检测方法”专利

合肥康芯威申请“一种存储芯片的检测系统及检测方法”专利

合肥康芯威存储技术有限公司“一种存储芯片的检测系统及检测方法”专利公布，申请公布日为2024年3月1日，申请公布号为CN117637012A。

本发明提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，检测系统包括平台测试模块，用以测试待测芯片的工作状态，当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，以生成所述待测芯片正常工作状态下的测试结果；以及分析子板模块，与所述平台测试模块通信连接；其中，当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式，所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果。本发明可以在存储芯片不解焊的情况下，获取其无法实现错误检查和纠正的原因。

一种存储芯片的检测系统及检测方法

发明公布

申请号：CN202410101483.8 申请日：2024-01-25 

申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司

公开(公告)号：CN117637012A 公开(公告)日：2024-03-01 IPC分类号：G11C29/50,G11C29/56

发明人：余玉，许展榕

受理局：中国

摘要：本发明提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，检测系统包括平台测试模块，用以测试待测芯片的工作状态，当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，以生成所述待测芯片正常工作状态下的测试结果；以及分析子板模块，与所述平台测试模块通信连接；其中，当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式，所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果。本发明可以在存储芯片不解焊的情况下，获取其无法实现错误检查和纠正的原因。